An integrated simulation model of yield loss by a fungal pathogen: stem canker (Phomopsis helianthi) in sunflower - INRAE - Institut national de recherche pour l’agriculture, l’alimentation et l’environnement Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999

An integrated simulation model of yield loss by a fungal pathogen: stem canker (Phomopsis helianthi) in sunflower

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02765734 , version 1 (04-06-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02765734 , version 1
  • PRODINRA : 62229

Citer

Philippe P. Debaeke, J. Chabanis. An integrated simulation model of yield loss by a fungal pathogen: stem canker (Phomopsis helianthi) in sunflower. International symposium modelling cropping systems, Jun 1999, Lleida, Spain. ⟨hal-02765734⟩
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